Defesa de Tese - Daniel Katz Bonello

Data: 
segunda-feira, 20 Janeiro, 2020 - 09:00

Candidato: Daniel Katz Bonello
Nivel: Mestrado
Titulo: Contribution to the printed circuit board defect detection techniques based on fast wavelet transform
Data: 20/01/2020
Horario: 09:00 Hs
Local: LE46 - Sala de Seminários FEEC
Orientador: Prof. Dr. Yuzo Iano (FEEC/UNICAMP)
Banca: Prof. Dr. Yuzo Iano (FEEC/UNICAMP)
Dr. Silvio Renato Messias de Carvalho (/E2S)
Prof. Dr. Ricardo Barroso Leite (/IFSP)
Prof. Dr. Vicente Idalberto Becerra Sablón (/UNIMEP) - suplente
Prof. Dr. Luís Geraldo Pedroso Meloni (FEEC/UNICAMP) - suplente